コロナ禍のApple Silicon開発、どう乗り切ったか Appleのスルージ上級副社長が語る

コメント

注目のコメント

• 津田 建二

  News & Chips 国際技術ジャーナリスト

  ・2022年04月18日

  わかりにくいストーリーでしたが、要はApple Silicnをテストするための顕微鏡によるチェックをリモートでできるようにしたことですね。ファブレスのAppleがなぜ顕微鏡でのチェックが必要としたのかが全く抜けているので正確なことはわかりませんが。チップをPCB（プリント回路基板）に実装した時のボンディング状態を見ようとしたのかもしれません。そうだとすれば、電気的には端子をスキャンして調べるJTAG手法のための回路をチップ上に集積していれば済んだのかもしれません。また、First siliconでうまく動作しなかったために、チップ内の回路の接続状態を見ようとして、電子顕微鏡（SEM）や測長SEMなどをリモートで見たかったのかもしれません。いずれにしてもなぜ顕微鏡による目視検査が必要だったのか、書かれていないのでわかりませんが、深く突っ込めとは言いませんが、せめてその目的くらいは書いてほしかったです。