今回の一杉研の研究成果は不純物や大気暴露の影響が無い状態での、界面抵抗の原因を明らかにするもので、化学反応層メカニズムが有力であることが分かったというもの。 より構造が複雑になる粉末成形の場合も本メカニズムが有効かは不明だが、先ずは界面抵抗の起源として化学反応層の存在があるという結論を導いたことから、化学反応をさせないように硫化物系の固体電解質を扱うといったことも考えられそうです。 こうした固体イオニクスの研究はとても重要なので引き続き期待したいところ。
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