【プレスリリース】ナノスケールの熱膨張を直接計測～温度変化による電子部品の劣化や故障の原因究明が可能に～

コメント

注目のコメント

• tanaka k

  汎用エンジニア

  ・2021年12月05日

  試料加熱しながらSTEM-EELSで界面観察することでナノスケール熱膨張挙動を調べてますね。シミュレーションによる安定構造はMDで調べているようです。
  
  実験側に相当な労力を割いたと思いますが、実験と計算が一致することを確かめてしまえば、以降は妥当なシミュレーション予測が可能になるので、熱膨張を軽減できる界面の予測などできるようになるでしょうね。
  
  シミュレーション側の進歩は本当に目覚ましいものがあるので、シミュレーションベースのフローに乗せるため、苦労して実験をやるモチベーションが生まれます。